差熱分析儀

簡要描述:DZ3320A差熱分析儀是在程序控制溫度下,測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時間的變化關系。在DTA試驗中,樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如:相轉變,熔化,結晶結構的轉變,沸騰,升華,蒸發,脫氫反應,斷裂或分解反應,氧化或還原反應,晶格結構的破壞和其他化學反應。

  • 產品型號:DZ3320A
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2023-08-01
  • 訪  問  量: 3737

詳細介紹

差熱分析儀是在程序控制溫度下,測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時間的變化關系。在DTA試驗中,樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如:相轉變,熔化,結晶結構的轉變,沸騰,升華,蒸發,脫氫反應,斷裂或分解反應,氧化或還原反應,晶格結構的破壞和其他化學反應。

差熱分析儀特點:

1.儀器主控芯片采用Cortex-M3內核ARM控制器,運算處理速度更快,溫度控制更。

2.采用USB雙向通訊,操作更便捷。

3.采用7寸24bit色全彩LCD觸摸屏,界面更友好。

4.采用鎳鉻合金傳感器,更耐高溫、抗腐蝕、抗氧化。

技術參數:

1. 溫度范圍: 室溫~1150℃  

2. 量程范圍: 0~±2000μV  

3. DTA精度: 0.01μV  

4. 升溫速率: 1~80℃/min  

5. 溫度分辨率: 0.1℃  

6. 溫度準確度: ±0.1℃  

7. 溫度重復性: ±0.1℃  

8. 溫度控制: 升溫:程序控制  可根據需要進行參數的調整

   恒溫:程序控制  恒溫時間任意設定

9. 爐體結構: 爐體采用上開蓋式結構,代替了傳統的升降爐體,精度高,易于操作

10.氣氛控制: 內部程序自動切換

11.數據接口: 標準USB接口  配套數據線和操作軟件

12.顯示方式: 24bit色 7寸 LCD觸摸屏顯示

13.參數標準: 配有標準物,帶有一鍵校準功能,用戶可自行對溫度進行校正

14.基線調整: 用戶可通過基線的斜率和截距來調整基線

15.工作電源: AC 220V  50Hz


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